日本 KETT 凯特 L-500 膜厚仪
2025-10-30 14:26:10
admin
日本 KETT 凯特 L-500 膜厚仪
主要技术参数
| 测量方法 | 电磁感应或涡流 |
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| 测量对象 | 磁性金属上的非磁性涂层或非磁性金属上的绝缘涂层 |
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| 测量范围 | 电磁感应探头 EP-100、EP-110、EP-120：0~2500μm
涡流探头 HP-100、HP-110：0~1200μm
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| 测量精度 | ± 1 μm（~50 μm）、± 2%（50 μm~）
*取决于本公司规定的条件 |
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| 分辨率 | 小于 100 μm：0.1 μm，大于 100 μm：1 μm |
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